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弗魯克FLUKO

表面檢測儀

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旋轉粘度計

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　首頁 > 產品展示 > 光譜色譜分析儀 > 紫外分光光度計

產品列表

產品圖片	產品名稱/型號	產品簡介
	754上海菁華754紫外可見分光光度計	波長設定范圍 190-1100nm 光譜帶寬 4nm 雜散光 ≤0.5%T (220nm 360nm) 波長準確度 ±2nm
	754PC上海菁華754PC紫外可見分光光度計	波長設定范圍 190-1100nm 光譜帶寬 4nm 雜散光 ≤0.5%T (220nm 360nm) 波長準確度 ±2nm 波長重復性 1nm
	756MC上海菁華756MC紫外可見分光光度計	波長范圍 190 nm～1100 nm 光譜帶寬 2nm 雜散光 ≤0.3%T (220nm 360nm) 波長準確度 ±0.5nm
	UV751GD上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：195-1000nm；波長準確度：±0.2-±4.8nm；狹縫：0～2mm連續可調；自動調“0% T”“100% T”、濃度線性回歸、內置打印機
	UV752N上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：200-800nm，波長準確度：±2nm，光譜帶寬：5nm，自動調“0%T”“100%T”、濃度直讀
	UV754N上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：200-800nm，波長精度：±2nm，光譜帶寬：4nm，LCD顯示,自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、自動消除比色皿誤差功能；附高速熱敏打印機
	UV755B上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：200-1000nm，波長準確度：±1nm，光譜帶寬：2nm，自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、*記憶儲存功能；附高速熱敏打印機
	UV759上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：190-1100nm，波長準確度：±0.5nm，光譜帶寬：2nm，雜散光≤0.05%T, 比例雙光束結構, 全自動操作,LCD顯示(數據),自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯樣品架，不帶光譜掃描，有USB接口。配置軟件后可與PC通訊,由PC全面操作
	UV759S上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：190nm-1100nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結構；全自動操作；LCD顯示(數據、圖譜)；具有掃描功能；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能,；自動8聯樣品架；可進行光譜掃描；有USB接口；配置軟件后可與PC通訊,附高速熱敏打印機
	UV757上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：200-1000nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；全自動操作；LCD顯示(數據)；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能；具有RS232接口；由PC全面操作(附軟件)；自動8聯樣品架，
	UV762上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：200-1100nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雙光束結構；全自動操作；LCD顯示(數據、圖譜)；具有掃描功能；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 附高速熱敏打印機
	UV765上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：190-1100nm；波長準確度±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結構；全自動操作；LCD顯示（數據、圖譜）；具有掃描功能；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯樣品架；上海精科紫外可見分光光度計
	760CRT上海精科紫外可見分光光度計	波長范圍：190-900nm；波長準確度±0.3nm；光譜帶寬：0.08～5nm連續可調；雜散光≤0.08%T；測光方式：雙光束C-T式光路結構；具有波長掃描、時間掃描、定量分析、多波長測定；附品牌電腦、噴墨打印附件